技術簡介：

序號 名稱 用途

1 大地電導率連續成像系統 檢測地表到1000m深度以下的地質資源環境

2 高密度電阻率成像系統 檢測地表到300m深度以下的地質資源環境

3 綜合地質分析系統 地質信息及檢測數據分析

利用以上專用探測技術及分析手段對礦山地質資源及環境進行探測和分析評價。

技術來源：

單位名稱：北京科技大學

地 址：北京市海淀區學院路30號

聯 系 人：譚卓英

電 話：010-62332939 

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